International Journal of McLuhan Studies 2012-13

International Journal of McLuhan Studies 2012-13

Education Overload. From Total Surround to Pattern Recognition.

Matteo Ciastellardi (ed.)

Col·lecció: SEHEN

Dades del llibre

ISBN: 9788493999544
Publicació: 09/2014
Idioma: Anglès
Format: Rústica
Nombre de pàgines: 186
Mida: 17.0 x 24.0 cm
18.00 €

Termini d'entrega: 8 días laborables

Recomanacions